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基本信息
- 成果类型 高等院校
- 委托机构 西安电子科技大学
- 成果持有方 西安电子科技大学
- 行业领域 其他电子信息
- 项目名称 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法
- 知识产权 发明专利
- 项目简介 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法,步骤如下:获取修正折射率剖面数据;确定计算范围,包括最大传播距离,最大传播高度,高度步进值,发射天线高度以及发射天线初始发射仰角及射线仰角间隔,判断是否对射线进行追踪;根据Snell定律的二阶泰勒近似模式对射线进行追踪,获得每一根射线的传播轨迹;对于所有符合追踪条件的射线进行陷获与否的判定并分类,提取出射射线的离散数据;获得波导顶部盲区的起始位置参数;计算表面波导顶部盲区面积。本发明引入射线追踪法对电波射线进行判定、归类,提取及数据离散化处理,简单直观并且准确地获得盲区的起始位置、范围,使盲区计算模型的复杂程度降低,从而实现对流层表面波导盲区面积的快速计算。
交易信息
- 意向交易额 面议
- 挂牌时间 2019/10/08
- 委托机构 西安电子科技大学
- 联系人姓名 王小刚
- 联系人电话 15802954800
- 联系人邮箱 745490733@qq.com
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